设备图片

设备/型号

简介

场发射扫描电子显微镜

Apreo S

测试项目：透射、表面形貌观察、微区元素定性及半定量分析（微区元素的线分布、面分布）。

测试范围：

二次电子像分辨率：0.7nm（15kV高、低真空）
STEM像分辨率：0.6nm（30kV高真空）  
EDS能量分辨率(Mn-Ka)：129eV

应用领域：材料、物理、生物、化学、热能、环境、地球科学、光电子等领域；粉末、微粒样品形态测定；金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析。

扫描电子显微镜 - 能谱仪

Hitachi  SU1510

测试项目：表面形貌观察、微区元素定性及半定量分析（微区元素的线分布、面分布）。

测试范围：

二次电子分辨率：3.0 nm(高真空，30 kV)

背散射电子分辨率：4.0 nm(低真空，30 kV)

EDS能量分辨率：125 eV(Mn Kα)

应用领域：材料、物理、生物、化学、热能、环境、地球科学、光电子等领域；粉末、微粒样品形态测定；金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析。